熱常數(shù)分析儀是一站式材料熱物性精密檢測(cè)設(shè)備，主流采用TPS 瞬態(tài)平面熱源法(Hot Disk)，單次測(cè)試同步輸出三大核心熱學(xué)指標(biāo)：導(dǎo)熱系數(shù) λ、熱擴(kuò)散系數(shù) α、體積比熱容 Cp，配套高低溫爐/循環(huán)浴覆蓋寬溫域，適配固體、薄膜、粉末、膏體、液體、各向異性復(fù)合材料，是材料、電子、新能源、紡織、高分子實(shí)驗(yàn)室標(biāo)配熱分析設(shè)備。

　　熱常數(shù)分析儀主要基于瞬態(tài)平面熱源法(TPS技術(shù))。其核心元件是一個(gè)由導(dǎo)電金屬刻蝕而成的雙螺旋結(jié)構(gòu)薄片探頭，外層通常有絕緣保護(hù)層。測(cè)試時(shí)，探頭上通過恒定電流產(chǎn)生熱量，由于溫度升高，探頭電阻發(fā)生變化，從而在兩端產(chǎn)生電壓降。由于不同樣品的導(dǎo)熱性能不同，探頭熱量散失的速率不同，產(chǎn)生的電壓變化也不同，儀器通過解析這一過程來(lái)計(jì)算材料的熱常數(shù)。

　　樣品制備建議：

　　固體樣品：需準(zhǔn)備兩塊表面平整的樣品，將探頭夾在中間并牢牢夾緊，確保樣品與探頭之間無(wú)氣泡。常規(guī)塊材直徑最好大于30mm，厚度大于10mm。

　　粉末樣品：將探頭置于容器內(nèi)，用粉末將其填滿。

　　液體樣品：將探頭懸掛并浸沒在液體中，保持平展。

　　薄膜與薄片：需根據(jù)探頭尺寸確保樣品的直徑和厚度符合儀器的尺寸要求。